康耐德智能的半導體芯片視覺定位測量AOI系統結合了高精度光學檢測、機器視覺算法與自動化控制技術，專注于提升電子制造的芯片定位的精度，實現了對晶片大小、質心點位置、旋轉角度以及 MARK 點位置等的準確測量。

    芯片視覺定位測量AOI系統能夠快速準確地找到芯片并確認其位置，即使對于形狀不規則的芯片，也可通過模板匹配、邊緣檢測等技術實現高精度定位。
    可以精確測量芯片的尺寸，包括長度、寬度、厚度等關鍵參數，還能檢測芯片是否存在崩缺等缺陷，測量精度上能夠達到微米級，滿足半導體行業對高精度測量的要求。
    融合AI算法與機器學習，系統可自適應不同芯片型號的定位檢測需求。無論是大尺寸還是小尺寸芯片，還是不同材質和顏色的芯片及復雜的生產環境，系統都能通過優化算法和調整參數實現準確的定位和測量。
    視覺系統可與半導體制造生產線上的其他設備如機械手臂、傳送帶等進行無縫集成，通過視覺定位數據結合機械機構實現自動上下料、自動檢測、自動分揀等功能，自動化程度高。

    一次性可定位多個芯片，減少了生產時間，同時自動化檢測流程能夠 24 小時不間斷工作，大大提高了生產效率，憑借其高效、精準的視覺系統檢測能力，為電子制造企業提供了可靠的芯片視覺定位解決方案。